多光子顯微鏡

在多光子顯微鏡（也稱為非線性或雙光子顯微鏡）中，以兩倍正常激發波長照射樣品。更長的波長是有利的，因為它們可以更深地穿透樣品進行 3D 成像，并且因為它們不會損壞樣品，從而延長樣品壽命。為了實現多光子激發，照明光束在空間上聚焦（使用光學器件），同時使用高能短脈沖激發光束以提高兩個（或更多）光子同時到達同一位置（即熒光團分子）的概率。

多光子顯微技術的例子包括二次諧波產生 (SHG)、三次諧波產生 (THG)、相干反斯托克斯拉曼光譜 (CARS) 和受激發射耗盡 (STED) 顯微技術。由于這些技術中的每一種都使用脈沖激光器，因此選擇能夠最大限度地減少脈沖色散的光學組件很重要，并且激光反射二向色鏡應具有低 GDD 特性。

如圖 2 所示，典型的系統由激發激光器、掃描和成像光學器件、靈敏檢測器（通常是光電倍增管）和用于將熒光與激光器分離并阻擋激光的濾光片（二向色分光鏡）組成從到達檢測器（發射濾光片）。

多光子成像系統提供的優勢包括真正的三維成像、對活組織內部深處進行成像的能力以及消除平面外熒光。

使用這種方法，可以對斯托克斯位移非常短和/或效率非常低的熒光染料進行成像，甚至可以對樣品或組織中固有的熒光分子進行成像。多光子成像的缺點包括需要高峰值功率脈沖激光器，例如鎖模鈦：藍寶石激光器，并且直到現在，缺乏在整個發射范圍內提供足夠吞吐量的高性能濾光片。整個激光調諧范圍內的興趣和足夠的阻擋（圖 3）。

圖 1：來自暴露的小鼠皮層的雙色體內雙光子成像。NADH 熒光（紅色）和硫羅丹明標記的星形膠質細胞（綠色）使用 BrightLine FF01-680/SP 發射器和 FF665-Di01 二向色鏡拍攝。圖片由羅徹斯特大學醫學中心神經外科系 Karl A. Kasischke 和 Nikhil Mutyal 提供。

圖 2：多光子熒光顯微鏡的典型配置。

圖 3：多光子顯微鏡需要在非常寬的光譜范圍內控制光：從近紫外一直到近紅外。

針對多光子顯微鏡優化的 Semrock 濾光片Semrock 通過引入具有超高透射率、非常陡峭的邊緣和精心優化的阻擋的濾光片，為多光子用戶帶來了增強的性能?？紤]到激發激光器和多光子成像系統的其他復雜元件通常需要多少投資，這些新的光學濾光片代表了一種簡單且廉價的升級，可以顯著提高系統性能。

BrightLine^®
發射濾光片提供從近紫外到近紅外的清晰透射（圖 4）。事實上，與傳統濾光片的褐色色調相比，發射濾光片看起來像窗戶玻璃一樣清晰，而且 LWP 二向色鏡具有如此寬的反射帶，它們看起來像高反射鏡（圖 5）。發射濾光片還在 Ti:Sapphire 激光調諧范圍內提供深度阻擋，這對于實現高信噪比和測量靈敏度至關重要。

有時需要限制在任何給定時間檢測到的熒光發射光譜帶，特別是當使用多個熒光團標記樣品中的不同目標時。較窄的帶通濾光片非常適合此目的，Semrock 提供了多種此類帶通濾光片，可與多光子發射濾光片結合使用，幾乎不會丟失熒光信號。

由于非線性光學效應強烈依賴于激光脈沖的峰值強度，因此當脈沖展寬（以及隨之而來的峰值強度降低）保持在最/低限度時，會產生*的成像。BrightLine FF670-SDi01 和 FF720-SDi01 短波通二向色分束鏡旨在將激發激光反射到樣品，同時提供返回的近紫外和可見熒光或 SHG 信號的出色傳輸。與從這些分束鏡反射的激光相關的群延遲色散 (GDD) 非常低。例如，對于 FF670-SDi01 濾光片，100 fs 變換限制高斯脈沖在整個激光波長范圍內的加寬小于 2%，而對于 FF720-SDi01 濾光片在整個激光波長范圍內的加寬遠小于 1%。

圖 4：BrightLine 多光子濾光片提供近乎理想的性能，如“近紫外和可見光"發射濾光片 FF01-680/SP 和二向色鏡 FF665-Di01 的這些典型測量光譜所示。

圖5：圖 5： BrightLine 多光子濾光片非常清晰！

圖6：使用Semrock多光子濾光片研究表明熒光Ca 2+指示劑蛋白（FCIPs），用于在使用雙光子顯微鏡活細胞研究的Ca2 +動態的功率。表達熒光蛋白 CerTN-L15 的 2/3 層神經元的三維重建。

中間：3 張選定的圖像（每張在左側和右側分別用數字標記的深度拍攝）。圖片由慕尼黑工業大學神經科學研究所的 Olga Garaschuk 教授教授提供。（修改自 Heim 等人，Nat. Methods，4(2)：127-9，2007 年 2 月。）(Modified from Heim et al., Nat. Methods, 4(2): 127-9, Feb. 2007.)

光密度OD

光學密度（Optical Density或稱為 OD）是描述光通過高度阻擋的光學濾光片（當光的傳輸非常小時）的透過率的一種方便工 具。OD簡單地定義為對數（底為10）的負變量。變量在0和1之間變化(OD = – log10(T))。因此，透過率就簡單等于10的負OD值的 方 (T = 10– OD)， 左圖顯示了OD的影響：6個數量級（1000000次）的透過率變化，非常簡單地用介于0到6的數字來表示；下面中間 的示例表和右下的“法則"列表提供了一些方便的技巧，可以在 OD 和透過率之間快速轉換。將變量 T 乘以2（或除以10）等于減 去0.3（或加上1），就轉換成了 OD 。

光密度本底噪聲：

通過精心優化我們的測量設備和方法，Semrock能夠提供一些優化的寬帶光密度（OD）。以下是此網站上顯示的大多數測量數據的典型OD噪聲本底限制。

對于介于320和1120 nm之間的波長，接近或低于3e-7（光學密度6.5）的透射值受到測量噪聲的限制。

對于波長<320 nm且在1120-1500 nm之間的波長，接近或低于3e-6（光學密度5.5）的透射值受到測量噪聲的限制。

對于大于1500 nm的波長，接近或低于1e-5（光學密度5.0）的透射值受到測量噪聲的限制。

同樣，對于某些濾光片和/或某些阻擋波長范圍，顯示的本底噪聲僅為OD 4。